內(nèi)存卡容量測(cè)試有什么危害

更新時(shí)間:2016-03-17本文內(nèi)容轉(zhuǎn)載自互聯(lián)網(wǎng)
寫入數(shù)據(jù)、刪掉數(shù)據(jù)、格式化、測(cè)速、容量測(cè)試等操作可能會(huì)使儲(chǔ)存卡有發(fā)熱的情況,但對(duì)儲(chǔ)存卡都沒什么危害。儲(chǔ)存卡是閃存式儲(chǔ)存器,最怕的是物理性損壞,如斷裂、擠壓等。但盡量在使用完成后先停止設(shè)備在拔出,不要在擦寫數(shù)據(jù)時(shí)強(qiáng)制拔出。
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